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CEP y capacidad del proceso

Control estadístico del proceso y capacidad: Cp, Cpk, Pp y Ppk (también con datos no normales), gráficos de control Xbarra-R, Xbarra-S, I-MR, P, NP, C, U, Laney, EWMA y CUSUM con las pruebas 1 a 8, capacidad de atributos (% defectuoso, DPU, Z y PPM), gráficos G y T para eventos raros y gráfico multi-vari con gráfico de corridas; accesos al histograma y al gráfico de corridas simple.

Capacidad Cp y Cpk

Pegue las mediciones (columna única, subgrupos o ID) o indique media y desviación estándar: Cp, CPL, CPU, Cpk, Pp, Ppk, Cpm con IC 95%, PPM observadas y esperadas, Z.Bench, gráficos de control, Box-Cox, Johnson, Weibull y lognormal, y el beneficio de reducir la variación.

Cp, Cpk, PPM, nivel sigma

Gráficos de control

Muestra si un proceso es estable en el tiempo, separando la variación normal de las señales de que algo cambió y debe investigarse. Pegue las mediciones y genere gráficos Xbarra-R, Xbarra-S, I-MR, I-MR-R/S, P, NP, C, U, P′/U′ de Laney, EWMA o CUSUM, con pruebas 1 a 8, etapas, límites históricos, subgrupos desiguales y la sigma dentro para el Cpk.

X̄-R, I-MR, P, U, EWMA, pruebas 1–8

Capacidad de atributos Nuevo

Mide la capacidad de un proceso cuando el resultado no es una medida, sino pieza buena/mala o número de defectos. Para características pasa/no pasa o conteo de defectos: pegue las muestras y obtenga el % defectuoso o el DPU con intervalo de confianza exacto, PPM, Z del proceso, gráfico P o U con pruebas, acumulado con límites de confianza, tasa × tamaño de muestra, histograma, tarjeta de verificación y cuántas piezas más inspeccionar para demostrar el objetivo.

% defectuoso, Z, DPU

Gráficos G y T (eventos raros) Nuevo

Sigue si los defectos raros, las fallas o los accidentes se vuelven más o menos frecuentes, midiendo el intervalo entre uno y otro. Para eventos raros, en los que un gráfico P o U mostraría casi solo ceros: pegue las fechas de los eventos o las cantidades entre ellos y obtenga el gráfico G (geométrica) o T (Weibull o exponencial) con límites por probabilidad, pruebas para causas especiales, eventos acumulados frente a lo esperado, ajuste de la distribución, tarjeta de verificación y costo anual.

Tiempo entre eventos raros

Multi-vari y corridas Nuevo

Ayuda a encontrar de dónde viene la variación de una medida antes de buscar la causa. Pegue las mediciones con hasta 4 factores (posición en la pieza, pieza, hora, turno) y vea el gráfico multi-vari con las medias unidas por nivel y la parte de la variación de cada familia; o analice el orden de los datos en el gráfico de corridas, con las pruebas de conglomerados, mezclas, tendencia y oscilación.

Familias de variación, corridas

También útil

Histograma Nuevo

El histograma muestra cómo se distribuyen las mediciones de una característica: dónde está el centro, cuánto varían y si caben en los límites de especificación. Es la primera herramienta para entender un proceso antes de calcular el Cpk o cambiar ajustes. Pegue mediciones desde Excel y obtenga el histograma con clases automáticas o ajustables, curva normal, media y ±3s, límites de especificación con el % fuera, gráfico de puntos para pocos datos, grupos superpuestos, apilados o en paneles, lectura de la forma en lenguaje sencillo y tabla de frecuencias.

Forma, clases, % fuera

Gráfico de corridas Nuevo

El gráfico de corridas (run chart) muestra un indicador a lo largo del tiempo y responde si cambió de verdad o solo osciló por azar, sin estadística avanzada. Es la forma más sencilla de demostrar si una mejora funcionó. Pegue un indicador en orden de tiempo (rechazo diario, tiempo de cambio, reclamaciones por semana) y la página dibuja el gráfico de corridas con la mediana, la meta y los límites, destaca sola los desplazamientos de 6 o más puntos y las tendencias de 5 o más y cuenta las rachas con la tabla de Provost y Murray, explicando cada señal en lenguaje sencillo.

Mediana, desplazamiento, tendencia