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MSP et capabilité des processus

Maîtrise statistique des procédés et capabilité : Cp, Cpk, Pp et Ppk (aussi avec des données non normales), cartes de contrôle X̄-R, X̄-S, I-MR, P, NP, C, U, Laney, EWMA et CUSUM avec les tests 1 à 8, capabilité aux attributs (% défectueux, DPU, Z et PPM), cartes G et T pour événements rares et diagramme multi-vari avec graphique de séquence ; accès à l’histogramme et au graphique de séquence simple.

Capabilité Cp et Cpk

Collez les mesures (colonne unique, sous-groupes ou ID) ou indiquez moyenne et écart-type : Cp, CPL, CPU, Cpk, Pp, Ppk, Cpm avec IC à 95 %, PPM observées et attendues, Z.Bench, cartes de contrôle, Box-Cox, Johnson, Weibull et lognormale, et le gain d’une réduction de la variation.

Cp, Cpk, PPM, niveau sigma

Cartes de contrôle

Montre si un processus est stable dans le temps, en séparant la variation normale des signaux indiquant que quelque chose a changé et doit être analysé. Collez les mesures et générez des cartes Xbarre-R, Xbarre-S, I-MR, I-MR-R/S, P, NP, C, U, P′/U′ de Laney, EWMA ou CUSUM, avec tests 1 à 8, étapes, limites historiques, sous-groupes inégaux et le sigma intra pour le Cpk.

X̄-R, I-MR, P, U, EWMA, tests 1–8

Capabilité aux attributs Nouveau

Mesure la capabilité d’un processus quand le résultat n’est pas une mesure, mais pièce bonne/mauvaise ou nombre de défauts. Pour les caractéristiques conforme/non conforme ou les comptages de défauts : collez les échantillons et obtenez le % défectueux ou le DPU avec intervalle de confiance exact, PPM, Z du processus, carte P ou U avec tests, cumul avec limites de confiance, taux × taille d’échantillon, histogramme, fiche de vérification et combien de pièces contrôler en plus pour démontrer l’objectif.

% défectueux, Z, DPU

Niveau sigma et DPMO Nouveau

Convertit n’importe quelle mesure de qualité aux attributs en toutes les autres : à partir du comptage des défauts (défauts, unités et opportunités), du DPMO, du PPM de pièces défectueuses, du rendement, du niveau sigma ou du Cpk, il calcule le reste. Il montre le niveau sigma à court terme (avec le décalage de 1,5σ, réglable) et à long terme (Z.Bench), la table de 1σ à 6σ avec votre processus mis en évidence et la courbe normale avec la queue des défauts. Il explique la différence entre défaut et défectueux et pourquoi Cpk = Z ÷ 3.

DPMO, PPM, rendement, Cpk

Cartes G et T (événements rares) Nouveau

Suit si les défauts rares, les pannes ou les accidents deviennent plus ou moins fréquents, en mesurant l’intervalle entre deux occurrences. Pour les événements rares, où une carte P ou U ne montrerait presque que des zéros : collez les dates des événements ou les quantités entre eux et obtenez la carte G (géométrique) ou T (Weibull ou exponentielle) avec limites probabilistes, tests de causes spéciales, événements cumulés par rapport à l’attendu, ajustement de la distribution, fiche de vérification et coût annuel.

Temps entre événements rares

Multi-vari et séquences Nouveau

Aide à trouver d’où vient la variation d’une mesure avant de chercher la cause. Collez les mesures avec jusqu’à 4 facteurs (position sur la pièce, pièce, heure, équipe) et voyez le diagramme multi-vari avec les moyennes reliées par niveau et la part de variation de chaque famille ; ou analysez l’ordre des données sur le graphique de séquence, avec les tests de regroupements, mélanges, tendance et oscillation.

Familles de variation, séquences

Aussi utile

Histogramme Nouveau

L’histogramme montre comment se répartissent les mesures d’une caractéristique : où est le centre, combien elles varient et si elles tiennent dans les limites de spécification. C’est le premier outil pour comprendre un processus avant de calculer le Cpk ou de modifier des réglages. Collez des mesures depuis Excel et obtenez l’histogramme avec classes automatiques ou réglables, courbe normale, moyenne et ±3s, limites de spécification avec le % hors limites, diagramme en points pour peu de données, groupes superposés, empilés ou en panneaux, lecture de la forme en langage simple et tableau de fréquences.

Forme, classes, % hors limites

Graphique de séquence Nouveau

Le graphique de séquence (run chart) montre un indicateur dans le temps et indique s’il a vraiment changé ou s’il a seulement fluctué par hasard, sans statistique avancée. C’est le moyen le plus simple de démontrer qu’une amélioration a fonctionné. Collez un indicateur dans l’ordre chronologique (rebut journalier, temps de changement de série, réclamations par semaine) et la page trace le graphique avec la médiane, l’objectif et les limites, met en évidence automatiquement les déplacements de 6 points ou plus et les tendances de 5 ou plus, et compte les séquences avec la table de Provost et Murray, en expliquant chaque signal en langage simple.

Médiane, déplacement, tendance