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Système de mesure (MSA)

Analyse du système de mesure : R&R par ANOVA et par X̄/R (% de variation de l’étude, % de tolérance, ndc), étude de type 1 (Cg et Cgk), linéarité et biais de l’instrument et concordance aux attributs (kappa de Fleiss et de Cohen, efficacité de l’évaluateur) ; accès à la vérification des instruments et à la courbe d’étalonnage.

R&R du système de mesure

Montre quelle part de la variation des mesures vient de l’instrument lui-même et des personnes, et non des pièces. Collez l’étude R&R (pièce, opérateur, répétition, mesure) et obtenez la répétabilité, la reproductibilité, le %GRR de la variation, de la tolérance (bilatérale ou unilatérale) et du processus, le ndc, l’ANOVA avec et sans interaction et les six graphiques du rapport R&R.

EV, AV, %GRR, ndc

Étude de type 1, linéarité et biais Nouveau

Vérifie si un instrument de mesure suffit pour la tolérance de la pièce, à l’aide de pièces de valeur connue. Étude de type 1 (une pièce étalon mesurée plusieurs fois : Cg, Cgk, biais avec test t, graphique de séquence et histogramme) et étude de linéarité et de biais (régression biais × référence avec IC à 95 %, %linéarité et biais par référence), avec carte de vérification et rapport d’une page.

Cg, Cgk, biais

Concordance aux attributs Nouveau

Mesure la fiabilité du contrôle visuel ou bon/mauvais : plusieurs contrôleurs jugent les mêmes échantillons, plusieurs fois et en aveugle, et la page montre si chacun répète sa propre décision, s’ils sont d’accord entre eux et s’ils trouvent la bonne réponse. Collez les évaluations du contrôle visuel ou bon/mauvais (échantillon, évaluateur, réponse, standard) et obtenez la concordance intra-évaluateur, entre évaluateurs et par rapport au standard, avec IC exact, kappa de Fleiss et de Cohen, coefficients de Kendall pour les échelles ordinales, graphiques et fiche de vérification.

kappa, % de concordance

Aussi utile

Vérification des instrumentsEN Nouveau

Disponible en anglais

Courbe d’étalonnageEN

Disponible en anglais